PP281双坐标增量光栅尺

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概要

高精度的平面内位置测量
测量步距1 µm至0.05 µm
接口：1 VPP

特征

短测量环
一个PP 281二维光栅尺可测量两个轴。直接进行二维测量，显著缩短测量环。减少不利影响，显著提高测量精度。
高精度扫描
PP 281二维光栅尺采用干涉扫描原理。其测量基准是玻璃陶瓷基体上的相位光栅。这款光栅尺测量步距极小和测量精度极高。
易于安装
这款光栅尺信号周期极小，分辨率高，是高精度应用的理想选择。对于如此高精度的光栅尺，安装公差相当宽松，因此易于安装

技术数据

		PP281R
测量基准		玻璃基体的二维TITANID相位光栅；栅距：8μm
精度等级		±2nm
测量区		68mm x 68mm，如果需要其它测量区尺寸，可按要求提供
参考点		每轴一个参考点，位于测量长度起点位置后的3mm处
接口		1Vpp
信号周期		4μm
截止频率		≥300kHz
运动速度		≤72m/min
细分误差 RMS位置信号噪音		±12nm 2nm（450 kHz)）
电气连接		电缆（0.53m）带15针D-sub接头（针式）；接口电子电路在接头内
电缆长度		≤30m
供电电压		DC5V±0.25V
振动55 Hz至2000 Hz 冲击11 ms		≤80m/s2（IEC 60068-2-6） ≤100m/s2（IEC 60068-2-27）
工作温度		0°C至50°C
重量	读数头	170g
	二维栅盘	75g
	电缆	37g/m
	接头	140g



	产品样本