概要 |
ATOM是雷尼绍出品的微型非接触式增量直线光栅和圆光栅系统。它采用创新设计,将微型化与优异的信号稳定性、抗污能力和可靠性完美结合。这一结合在市场上是独树一帜的,代表了微型光栅性能和可靠性的重大进步。
ATOM提供高柔性线缆和柔性印刷电路 (FPC) 两种输出类型,并有20 µm和40 µm栅距的栅尺可供选择。
提供一系列配用的接口,包括标准Ri接口、高性能Ti接口和紧凑型无封装ACi接口。
什么是RCDM码盘?
RCDM是一种直接在盘面上刻划刻度的一体式玻璃码盘,具有单个参考零位位置和光学准直调整带。光学准直调整带可用于减少准直误差并提高安装精度。
提供20 µm或40 µm两种栅距的增量式刻线类型,有多种尺寸可选(20 µm:直径30 mm至108 mm,40 µm:直径17 mm至108 mm)。
非接触形式消除了传统封闭式光栅固有的反向间隙、扭转误差(扭变)及其他机械滞后误差。 |
特征 |
读数头尺寸:20.5 x 12.7 x 8.35 mm(FPC型:20.5 x 12.7 x 7.3 mm)
分辨率可达1 nm
速度高达20 m/s
模拟或数字输出
低电子细分误差 (SDE):20 µm型号 < ±75 nm,40 µm型号 < ±120 nm |
优点 |
微型封装
采用光学滤波系统设计,具有很强的抗污能力
诊断组件用以协助完成复杂安装并进行系统优化
码盘编码器适合小型旋转应用
品质保证 |
为什么选择这种光栅系统? |
微型光栅占用空间极小
ATOM的最小尺寸为7.3 mm x 20.5 mm x 12.7 mm,可在极小的空间内进行安装。提供多种选择,包括线缆型和FPC元件型。
可靠性强,系统性能高
ATOM是全球首款采用雷尼绍独特的光学滤波系统设计的微型光栅系统。读数头内的自动增益控制和自动偏置控制等动态信号处理技术进一步提升其功能。这一结合使ATOM具有更高的抗污能力和信号纯度,毫不逊色于我们的标准规格读数头,20 µm和40 µm读数头的电子细分误差 (SDE) 分别低至±75 nm和±120 nm。因此,速度控制更平稳,并且扫描性能和位置稳定性都有提高;许多运动控制应用的基本参数得到优化。
品质保证
ATOM采用自动化生产线,品质有保证,而且交付速度快。ATOM经过多道质控检验,包括温度和相对湿度测试、振动测试、ISO9001、静电放电测试、辐射干扰检测、传导干扰检测、LED老化率和全检。
接口选项
ATOM提供多种接口选项,让您在系统设计中充分灵活地集成光栅。
Ri接口
Ri接口采用紧凑型低成本封装设计,提供模拟1 Vpp或数字细分输出,分辨率可达50 nm(时钟输出)和0.5 µm(非时钟输出)。
Ri接口嵌入符合行业标准的15针D型连接器壳体内,包含校准按钮。
Ti接口
Ti接口设计用于需要更高速度和更低电子细分误差 (SDE) 的应用场合,其数字信号经细分后分辨率可达1 nm,并提供校准按钮。
针对行业标准控制器,时钟输出数字信号已在所有分辨率下对速度和性能进行了优化。
还提供模拟输出型号。
ACi接口
ACi接口是一系列开放的高性能微型细分器子系统。
对于今天的运动系统而言,既要求高分辨率与高速性能相结合,又要求结构紧凑、格式开放、空间占用少、具有系统校准功能,同时要求高性价比,ACi接口对于此类系统则具有无与伦比的优势。
数字信号经细分后分辨率可达10 nm,时钟输出可达40 MHz。
可提供FPC型、电缆型或PCB型连接器型号。
可选诊断组件
ATOM诊断软件可用于优化ATOM光栅的安装,并提供快速全面的系统校准方案。该软件必须与ATOM诊断硬件配合使用,硬件可向雷尼绍购买(订货号为A-9411-0011)。该硬件内嵌至客户端电子设备,或通过USB电缆(组件中提供)连接至计算机。
了解有关ATOM诊断组件的详细信息 |
技术数据 |
测量标准 |
玻璃码盘 |
读数头尺寸 (LxWxH) |
线缆型:20.5 mm x 12.7 mm x 8.35 mm |
FPC型:20.5 mm x 12.7 mm x 7.3 mm |
栅距 |
20 µm和40 µm |
热膨胀系数 |
~8 µm/m/°C |
码盘外径 |
20 µm:30 mm至108 mm |
40 µm:17 mm至108 mm |
如需更大尺寸,请联系雷尼绍 |
刻线数 |
20 µm:4096至16384 |
40 µm:1,024至8,192 |
参考零位 |
单个参考零位 |
刻划精度 |
±0.5 µm(码盘直径在100 mm内) |
±0.7 µm(码盘直径超过100 mm) |
最大速度 |
(详见规格手册) |
模拟 |
20 µm:可达10 m/s |
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40 µm:可达20 m/s |
数字 |
视接口类型而定,详见规格手册 |
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20 µm:可达10 m/s |
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40 µm:可达20 m/s |
电子细分误差 (SDE) |
20 µm型:通常 < ±75 nm |
40 µm型:通常 < ±120 nm |
动态信号控制 |
通过实时信号调节,包括自动增益控制 (AGC) 和自动偏置控制 (AOC),在整个工作条件范围内实现性能优化 |
增量信号 |
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模拟 |
1 Vpp |
数字 |
分辨率从10 µm至1 nm |
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(查看规格手册,了解角度分辨率详情) |
电气连接 |
线缆型读数头:板内连接器与Ri、Ti和ACi接口或15针D型连接器兼容 |
FPC读数头:16芯线,0.5 mm针距,与ACi接口兼容 |
电源 |
5 V ± 10% < 50 mA(读数头),< 200 mA(采用Ti接口),< 100 mA(采用Ri接口),< 100 mA(采用ACi接口)(无终端) |
振动(工作) |
55 Hz至2000 Hz时,最大振动为100 m/s² |
冲击(非工作) |
1000 m/s²,6 ms,½正弦 |
工作温度 |
0 °C至+70 °C |
防护等级 |
线缆型:IP40 Ri接口 IP20 |
FPC型:IP20(安装护盖) |
Ri/Ti接口:IP20 |
ACi接口:IP00 |
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